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产品详情
  • 产品名称:Model 3280 Test-In-Tray 测试分类机

  • 产品型号:
  • 产品厂商:台湾Chroma
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简单介绍:
Model 3280 Test-In-Tray 测试分类机采用**的技术整合SD卡测试机与自动分类机的功能,并利用Test-In-Tray的技术来达到大量平行测试的能力。透过支援SD资料传输协定(SD Protocol Aware)与提供特定DC参数测试的功能,3280为所有的SD卡类产品带来了一个**的测试方法,而这高效率的测试方法也为用户带来大幅降低生产成本的好处。此外,小机台的设计更可节省机台于测试厂之占地面积。Model 3280 Test-In-Tray 测试分类机更多详细介绍欢迎联系我们。
详情介绍:

对于低价的消费性产品而言,即使在生产成本上 仅有些微的差距,制造商也会极为敏感。而这样 的特性往往是此类消费性产品在成品测试中之一 大挑战。对于SD卡类产品而言,为了能够降低 生产的成本,SD卡类制造商了解在SD卡的制程 中必须采用Known Good Die(KGD)来进行生产。 其主要的原因,乃是因为采用KGD生产的SD卡类 产品,将可减少在成品测试中对于测试项目的要 求,只需针对成品封装过程中所可能产生的瑕疵 进行检测,而不需要再对整个晶片进行完整的测 试。

Chroma 3280整合了测试机台与自动分类机的功 能,并采用**的设计,满足采用KGD生产的SD 卡类产品的测试需求,不论是在机台的成本或是 体积上,都比传统的测试机台来的大幅降低,因 此也就能够相对地大幅降低测试的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的测试解决方案

Test-In-Tray : 乃是将待测物置于IC托盘中直接测 试的测试方式。利用这样的测试方法,可以大幅 节省传统的测试方法因自动分类机在进行测试 时,必须以机器手臂夹取每个待测元件所需花取 的索引时间。因此,提供了一个*有效率的测试 方法。在Chroma 3280中,对于120个SD卡进行测 试时所需花费的索引时间大约只有10秒钟。

高平行测试能力 : Chroma 3280配备了一个专属 的SD卡测试机巢 (Test Hive),此一测试机巢提供 了能够同时测试120个micro SD卡的测试能力。

Chroma Test Hive

仅移除SD卡测试坏品 : 由于3280使用置于盘中 直接测试(Test-In-Tray)以及SD卡有着高良率的特 性,3280采取仅从整盘的SD卡中移除于测试过 程中所侦测到的瑕疵品到废品盘内,同时再从预 先准备好的补充盘中夹取已测试过的良品来补足 目前测试盘中被移除的坏品,而将目前的测试盘 填满成一完整的良品,并送至完测区。假设若以 98%的测试良率而言,每次仅需从测试盘中移除 2到3个坏品。因此,在进行好坏品分类中平均 所花的时间将小于测试所花的时间,不须要等候 分类工作完成后才能进行下一次的测试,也使得 整体的测试时间更有效率。

SD卡测试模组 : Firecracker II

Firecracker II的电路设计与装置于3280测试机巢 (Test Hive)中的测试模组其电路设计完全一样。 对于3280的使用者而言,Firecracker II是一个相 当方便的工具。它能够使得使用者在与3280离线 的状态下,用来产生或测试其测试程式。透过多 样化转接介面的设计,使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待测物,而将其右边的USB介面可插入电脑的 USB插槽,配合Firecracker II所提供的软体程式, 使用者将可进行直接的测试或是除错等工作。

Firecracker II

测试能力

SD Protocol Aware Tests

  • Check CID Reg
  • Check CSD Reg
  • Check OCR Reg
  • Check SCR Reg
  • Check SD Status
  • Functional Test

DC Measurements

  • Open/Shorts
  • ESD Diodes
  • Power Up Idd
  • Leakage

 

软体功能

  • 使用者权限与密码管理
  • 机台状况警示侦测系统
  • 视觉化图解显示机台卡件错误发生区域
  • 提供离线模拟执行模式
  • 即时测试结果显示与更新
  • 可个别指定或取消单一待测物之测试
  • 测试良率与UPH资讯显示
  • 多种良率监控指标设定
  • 测试中机台开门中断?;すδ?/span>
  • 紧急?;刂乒δ?/span>
  • 系统警示纪录保存功能

 

Chroma 3280 software - sorting status

Sorting Status

主要特色:
  • 整合SD卡测试机与自动分类机功能
  • 平行测试120个micro SD卡
  • Test-In-Tray
  • UPH = 5400 (以70秒的测试时间为例)
  • 支援SD卡资料通讯协定
  • 支援DC参数量测功能
  • Microsoft Windows XP OS
  • 提供Tray Map与分类结果资讯
  • 小机台体积 : 164cm x 79cm x 180cm
  • 选配设备
  • 3rd Party测试模组整合
  • Mini SD, SD与MMC的测试介面
  • SD卡资料写入模组

厂家简介:

致茂电子成立于1984年,以自有品牌”Chroma”行销全球,为精密电子量测仪器、自动化测试系统、制造资讯系统与全方位Turnkey测试及自动化解决方案供应商,主要产品包括LED 、太阳能、锂电池、电动车、半导体/IC、雷射二极体、平面显示器、视频与色彩、电力电子、被动元件、电气安规、热电温控、自动光学检测、以及制造资讯系统等测试解决方案。

 

主要销售:美国kepco程控电源系列,LCR阻抗测试仪,扭力测试仪, 光伏行业测试仪,扭力扳手实验室显微镜,医用产品安全分析仪,台湾博计电子负载,曰置HIIOKI微电阻计,等等测量仪器,测试仪器,工具等。(点击关键词可进入相关产品目录)

 

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